XTD自主研發及加工工藝，穩定的測試性能和使用壽命，

 頻寬： > 60GHZ @-1db，出色的高頻高速性能

 電阻： 50mΩ （可調整阻抗設計）

 適用于間距： 0.4mm-1.27mm

 測試行程：0.3mm -0.65mm

  探針壽命： 300萬-800萬次（因測試條件不同結果不同）

  彈簧彈力： 20g ~ 30g per Pin

 工作溫度： -55~ 155度（支持三溫測試）

  適用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP,等封裝

  適用于：射頻開關,濾波器,放大器,衰減器,巴倫,射頻微波器件。

  適用于手測、機測等，多種測試

  探針可更換，維修方便，成本低

  測試插座及座頭材料： AL，全金屬殼體，擁有優秀的散熱和信號屏蔽性能，

  探針類型： 特殊探針（添加屏蔽層）

XTD自主研發及加工工藝，穩定的測試性能和使用壽命，

 頻寬： > 60GHZ @-1db，出色的高頻高速性能

 電阻： 50mΩ （可調整阻抗設計）

 適用于間距： 0.4mm-1.27mm

 測試行程：0.3mm -0.65mm

  探針壽命： 300萬-800萬次（因測試條件不同結果不同）

  彈簧彈力： 20g ~ 30g per Pin

 工作溫度： -55~ 155度（支持三溫測試）

  適用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP,等封裝

  適用于：射頻開關,濾波器,放大器,衰減器,巴倫,射頻微波器件。

  適用于手測、機測等，多種測試

  探針可更換，維修方便，成本低

  測試插座及座頭材料： AL，全金屬殼體，擁有優秀的散熱和信號屏蔽性能，

  探針類型： 特殊探針（添加屏蔽層）